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BARKER可规划的检验光幕介绍,邦纳测量光幕应用
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更新时间:2024-10-22  |  阅读:1079

详情介绍

BARKER可规划的检验光幕介绍,邦纳测量光幕应用


产品技术规格

功能为可规划的量测检验光幕.
包括个控制器, 发射器和接收器及内部连接用讯号线.
提供可规划的控制器和可选择的测量模式选择、扫描模态和输出组态
提供高度从 133 到 1819 公厘的选择, 依型号而定
提供发射器和接收器zui小侦测物件达12.7mm
包含进阶设定软体
可选择的型号中有的监控和控制到 DeviceNet 的控制网路
功能为可选择加热型密闭式外壳附件在户外使用

BARKER可规划的检验光幕介绍,邦纳测量光幕应用
产品技术规格、可用于边缘和定位,张力控制, 孔洞尺寸测量,零件计数和产品尺寸外形检测

紧密的光束zui小可以检测5mm宽的物体;分辨率为2.5 mm.
接收器内建控制器功能,所以无需控制器,软件和PC
简便易用的安装软件包含了许多进阶设定功能
有14种测量模式,3种扫描方式,2个开关输出和2个模拟量输出,排通讯接头
发射器与接收器之间间距为4m
光幕高度从150到2400 mm.
产品技术规格

优良、高速的高精度检测光幕,应用检测、精密边缘、指引和孔洞侦测。
包含个控制器、发射器、接收器,和连接电缆
提供个控制器,可选择测量模式、扫描模式、输出配置
光幕高度163-1951 mm, 依型号区分
zui小被检测物高度为2.5 mm
2m的检测距离,易于对准
可规划遮蔽模式、迟滞模式和序列通讯模式
包含进阶规画软体进行进阶设定(软体已含)

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